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08.08.12
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Dialoge – das Audi-Technologiemagazin 2/2012

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Blick in den Mikrokosmos - Kleinste Teilchen: Mithilfe des Rasterelektronen Rasterelektronenmikroskops in einem Werkstoff auf die Spur. 500.000fach vergrößert das Rasterelektronenmikroskop in seiner maximalen Auflösung.

Bild-Nr: AT120212
Copyright: AUDI AG
Rechte: Verwendung für Pressezwecke honorarfrei
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